I.T. Chapman;
T.C. Hender;
D.F. Howell;
S.K. Erents;
M.P. Gryaznevich;
E de la Luna;
A. Savchkov;
R. Scannell;
S. Shibaev;
M.F. Stamp;
the MAST team;
JET EFDA contributors;
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